動態轉速綜合測試儀

SZU-01動態轉速綜合測試儀是一(yi)臺智能(neng)化測(ce)試(shi)(shi)儀(yi)(yi)(yi)。其中(zhong)央處理(li)(li)器(qi)為(wei)增(zeng)強型CMOS高級(ji)微機處理(li)(li)器(qi)－HD64180結構全部采(cai)用(yong)(yong)STD組件。測(ce)試(shi)(shi)儀(yi)(yi)(yi)有(you)兩(liang)個(ge)輸入通(tong)道(dao)，一(yi)個(ge)為(wei)電壓(ya)輸入，一(yi)個(ge)為(wei)脈沖輸入，且自動(dong)判別。測(ce)試(shi)(shi)儀(yi)(yi)(yi)基本上是作(zuo)為(wei)瞬(shun)間(jian)測(ce)速，采(cai)樣(yang)時間(jian)可(ke)在1～100ms間(jian)選擇，共采(cai)樣(yang)10240個(ge)點，采(cai)樣(yang)完畢后(hou)，可(ke)根據需要選擇顯(xian)示(shi)(shi)一(yi)幅(fu)總圖或某(mou)幅(fu)分圖（共20幅(fu)分圖），并(bing)能(neng)重復顯(xian)示(shi)(shi)。測(ce)試(shi)(shi)儀(yi)(yi)(yi)不但可(ke)用(yong)(yong)曲線表示(shi)(shi)過程(cheng)(cheng)，還可(ke)用(yong)(yong)一(yi)個(ge)數據串(chuan)表示(shi)(shi)過程(cheng)(cheng)，為(wei)了精確地讀取(qu)轉速數值，還增(zeng)加(jia)了移標功能(neng)，并(bing)顯(xian)示(shi)(shi)與移標對(dui)應的時間(jian)，轉速等(deng)值。測(ce)試(shi)(shi)儀(yi)(yi)(yi)還可(ke)用(yong)(yong)打印(yin)機將有(you)關資(zi)料打印(yin)保存。